CIRCOGRAPH CI
Sistema de prueba compacto para defectos superficiales longitudinales que
combina un diseño compacto con un funcionamiento intuitivo en un sistema de prueba
giratorio de alta precisión. El CIRCOGRAPH CI presenta una unidad de operación fácil de usar, y un interruptor giratorio fácil de “girar y empujar”. El sistema de 2 canales se puede ajustar de manera óptima para adaptarse a sus tareas de prueba gracias a una amplia gama de diferentes cabezales giratorios.
Por lo tanto, se pueden detectar defectos longitudinales en la superficie del material con profundidades tan pequeñas de hasta 30 μm.
Sus ventajas
- Diseño compacto
- Operación simple gracias a la unidad de operación integrada y al funcionamiento “girar y empujar”
- El sistema de prueba universal, se puede adaptar a las aplicaciones y requisitos individuales
- Sistema de prueba de 2 canales
- Inspección continua o por secciones
- Resolución de profundidad de defecto desde 30 μm
Technical Data
| Material de prueba: | material ferromagnético, austenítico y no ferromagnético |
| Sistema de sensores: | sistema de sensor giratorio con un máximo de dos (opuestos) cabezales rotativos (Ro 20 y Ro 35) |
| Frecuencias de excitación: | 30 kHz – 1 MHz |
| Max. rendimiento: | 3 m / s durante pruebas continuas |
| Visualización del defecto: | desde 30 μm en Ro 20 / Ro 35 |
